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二次イオン質量分析法 - Secondary ion mass spectrometry

新しい生体用二次イオン質量分析法を開発 （たんぱく質分子イオンを解離させずに検出に成功）図26・35飛行時間型二次イオン質量分析計（TOF-SIMS）消えた火星の広大な海二次イオン質量分析法 －TOF-SIMS法の紹介－リチウムイオン二次電池の加熱劣化試験(C0223)D-SIMS（ダイナミックSIMS）の分析手法、原理についてシリコン半導体デバイスの高集積化を可能にするイオン注入技術最新分析技術でIAEAの保障措置に貢献－大型二次イオン質量分析装置を用いた超極微量分析技術を開発し評価試験に合格－二次イオン質量分析法(SIMS)二次イオン質量分析法(SIMS)セラミックス材料に含まれる微量金属の価数評価(C0532)リチウムイオン二次電池の加熱劣化試験(C0223)［TOF-SIMS］飛行時間型二次イオン質量分析法二次イオン質量分析 SIMSインライン型二次イオン質量分析装置(4) 機能性ナノ粒子を用いたレーザー脱離イオン化質量分析(SALDI-MS)ARIM Japanホームページ飛行時間型二次イオン質量分析装置ARIM Japanホームページ国立研究開発法人 物質・材料研究機構飛行時間型二次イオン質量分析装置（TOF-SIMS）ハイブリッド質量分析計 フーリエ変換－リニアイオントラップ 検索結果に戻るSHRIMP-A二次イオン質量分析(SIMS)Secondary Ion Mass Spectrometry[FIB-MS]集束イオンビーム質量分析法MSとMS/MSの違いについてはんだ剥離部断面のTOF-SIMS分析(C0450)3. キャリアガスINSTRUMENTS 機器一覧ガスクロマト質量分析装置サイエンス質量分析機ガスクロマトグラフ-飛行時間型質量分析計(B0253)5M1E分析法液体クロマトグラフタンデム型質量分析計　（LC/MS/MS)analysis-of-ion-components-by-ic-ms-fig4質量分析法（分析部）微量分析技術を学ぶ基礎講座
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  • 分析
    ぶんせき
    analysis
    0
  • 法
    ほう
    law / act / principle
    0
  • 質量
    しつりょう
    mass
    0
  • 二
    に
    two
    0
  • 次
    じ
    next
    0
  • イオン
    イオン
    ion / electrically-charged atom
    0

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新しい生体用二次イオン質量分析法を開発 （たんぱく質分子イオンを解離させずに検出に成功）

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deSekundärionen-Massenspektrometrie
enSecondary ion mass spectrometry
frSpectrométrie de masse des ions secondaires
idSpektrometri massa ion sekunder
ruМасс-спектрометрия вторичных ионов
trİkincil iyon kütle spektrometrisi
ja二次イオン質量分析法

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