Figure 8. Device integrity inspection. (a) SEM of an electrically continuous device and b) the OLS5000 microscope’s image of a similar device; the laser-scanning image shows that the antennas were damaged during the fabrication.
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ヘッドライト カスタム~ん ~其の二 バイキセノン化編①~
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世界初、フッ化アパタイト二酸化チタン光触媒の合成に成功
Xef4(Xenon Tetrafluoride) Molecular Geometry, Lewis Structure and Polarity