Category:半導体製造
ファブレス
Fabless manufacturing
化学機械研磨
Chemical-mechanical polishing
日本マイクロニクス
回路配置利用権
ドライエッチング
Dry etching
半導体デバイス製造
Semiconductor device fabrication
シャロートレンチアイソレーション
Shallow trench isolation
不純物
Chemical impurity
System-on-a-chip
System on a chip
High-κ絶縁体
High-κ dielectric
探針
Test probe
5ナノメートル
5 nm process
ハードマスク
Hardmask
メタライズ
Metallizing
プローブカード
Probe card
プリンテッド・エレクトロニクス
Printed electronics
熱CVD
電子線描画装置
Electron-beam lithography
自己組織化リソグラフィ
Directed assembly of micro- and nano-structures
半導体故障解析
テスト対象デバイス
Device under test
Stranski-Krastanovモード
Stranski–Krastanov growth
ナノインプリント・リソグラフィ
Nanoimprint lithography
デザインルールチェック
Design rule checking
半導体集積回路の回路配置に関する法律
ワイヤボンダ
原子層エッチング
Atomic layer etching
集束イオンビーム
Focused ion beam